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Le super TEM : Aberration-corrected ARM 200F Cold-FEG Microscope

Le SUPER TEM

Le développement récent des correcteurs d’aberration et des sources d’électrons très cohérentes a renforcé l’impact de la microscopie électronique sur la caractérisation de la matière à l’échelle atomique. (...)

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SUPER TEM publications

2018
Direct Measurement of the Surface Energy of Bimetallic Nanoparticles : Evidence of Vegard’s Rulelike Dependence A. Chmielewski, J. Nelayah, H. Amara, J. Creuze, D. Alloyeau, G. Wang, C. (...)

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