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Le super TEM : Aberration-corrected ARM 200F Cold-FEG Microscope

Le SUPER TEM

Le développement récent des correcteurs d’aberration et des sources d’électrons très cohérentes a renforcé l’impact de la microscopie électronique sur la caractérisation de la matière à l’échelle atomique. (...)

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SUPER TEM publications

2018
Monitoring the dynamics of cell-derived extracellular vesicles at the nanoscale by liquid-cell transmission electron microscopy
M. Piffoux, N. Ahmad, J. Nelayah, C. Wilhelm A. Silva, F. (...)

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