Le SUPER TEM
Le développement récent des correcteurs d’aberration et des sources d’électrons très cohérentes a renforcé l’impact de la microscopie électronique sur la caractérisation de la matière à l’échelle atomique. (...)
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Le super TEM : Aberration-corrected ARM 200F Cold-FEG Microscope
SUPER TEM publications
2018
Structural Analysis of Single Nanoparticles in Liquid by Low-Dose Stem Nanodiffraction A. Khelfa ; C. Byun ; J. Nelayah ; G. Wang ; C. Ricolleau ; D. Alloyeau Micron 116, 30-35
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